Платформа тестирования ЭКБ

Виды испытаний ЭКБ
Выходной контроль на заводах производителях ЭКБ — о‌‍‍Отбраковочные испытания. Входной контроль на заводах потребителях ЭКБ.  ‌‌‍‍Контроль качества, выявление контрафакта. Выходной контроль у поставщиков ЭКБ. Сертификационные испытания — электротермотренировка, механические воздействия,… Испытания на спецфакторы

Выходной контроль на заводах производителях ЭКБ — о‌‍‍тбраковочные испытания. Входной контроль на заводах потребителях ЭКБ.  ‌‌‍‍Контроль качества, выявление контрафакта. Выходной контроль у поставщиков ЭКБ. Сертификационные испытания — электротермотренировка, механические воздействия,… Испытания на спецфакторы

Slider

Платформа NI STS — NI Semiconductor Test System — отличается высокой производительностью и представляет собой готовое к использованию на производстве ATE-решение для тестирования полупроводниковых устройств, включая ВЧ-устройства, устройства с сигналами различной природы и MEMS. Она подготовлена к эксплуатации в составе промышленного испытательного стенда, поддерживает различные манипуляторы, оснастки и зонды для кремниевых пластин, а стандартное расположение пружинных клемм позволяет использовать легко переносимые программы тестирования и платы нагрузки. STS включает универсальный набор программных средств для быстрых и эффективных разработки, отладки и развертывания тестовых программ

 Измеритель NI STS представлен на платформе NI PXI и включает в себя PXI шасси с контроллером и установленными модульными приборами PXI.  

  Состав тестера варьируется под необходимые задачи

Требования к тестеру

Интерфейс для исполнительных устройств (сортировщики, зонды, манипуляторы, проходные камеры) и внешних приборов

  • GPIB / Последовательный порт / TTL
  • USB 3.0 / ENET
  • Разъемы AUX для внешних подключений

Интерфейс оператора

  • USB / ENET / Видео
  • Порты питания
  • Управление загрузчиком печатных плат
  • Подключение антистатического браслета
  • Управление запуском/остановкой
  • Светодиоды статуса
  • Аварийное отключение
  • Соответствует конвенции SEMI S2

Сопряжение с зондом: Soft Dock

Кабельный интерфейс
Иногда кабели подключаются напрямую к проб-карте

Сопряжение с зондом: Hard Dock

Подключение через пружинные контакты
Короткий путь прохождения сигнала

Сопряжение с зондом: Direct Dock

Программное обеспечение тестера NI STS

Набор ПО для разработки, выполнения и отладки тестов


NI TestStand + модуль TestStand Semiconductor

  • Редактор последовательностей/интерфейс оператора;
  • Байннинг, интеграция с манипуляторами и зондовыми станциями, поддержка STDF формата, pin-map, тестирования в режиме multisite;
  • Встроенные процедуры частых измерений (прозвонка, Vcc и т.п.)

Модуль РАЗРАБОТКИ пользовательского ПО

  • NI LabVIEW/LabVIEW FPGA или C#
  • Включает все продвинутые математические/аналитические функции

ПО калибровки и самодиагностики NI STS

Интерфейс оператора NI STS

Настройка, анализ, отображение:
Настройка автомата
Количества сайтов
Отчеты в STDF формате
Статистика лота
Задействованные тестовые процедуры

Тестовые сценарии
Статистика по сайту
Общая статистика
Индикаторы Годен/Не годен
Другие индикаторы статуса
и т.д.

Наши услуги

Разработка тест-методов
Разработка тестовых программ и процедур
Разработка оснасток
Интеграция с информационной системой предприятия
Модернизация тестера
Проработка семейства тестеров для стандартизации решений по тестированию, по повышению эффективности производства
Тренинги, стажировка

You are using the BNS Add Widget plugin. Thank You!