Платформа тестирования ЭКБ - NI STS — компания «МИР»

Платформа тестирования ЭКБ - NI STS

Платформа тестирования ЭКБ - NI STS

Платформа NI STS — NI Semiconductor Test System — отличается высокой производительностью и представляет собой готовое к использованию на производстве ATE-решение для тестирования полупроводниковых устройств, включая ВЧ-устройства, устройства с сигналами различной природы и MEMS. Она подготовлена к эксплуатации в составе промышленного испытательного стенда, поддерживает различные манипуляторы, оснастки и зонды для кремниевых пластин, а стандартное расположение пружинных клемм позволяет использовать легко переносимые программы тестирования и платы нагрузки. STS включает универсальный набор программных средств для быстрых и эффективных разработки, отладки и развертывания тестовых программ.

Виды испытаний ЭКБ  Выходной контроль на заводах производителях ЭКБ — отбраковочные испытания. Входной контроль на заводах потребителях ЭКБ. Контроль качества, выявление контрафакта. Выходной контроль у поставщиков ЭКБ. Сертификационные испытания — электротермотренировка, механические воздействия. Испытания на спецфакторы.

Обзор

Оптимизированный по производительности и стоимости, STS представляет собой готовое к производству решение ATE для радиочастотных, смешанных сигналов и полупроводниковых устройств MEMS. STS готов к производственной испытательной камере с поддержкой манипуляторов, манипуляторов и устройств для зондирования пластин, а стандартная компоновка пружинных штифтов обеспечивает широкие возможности переноса тестовых программ и загрузочных плат. STS имеет единый набор программных инструментов для быстрой и эффективной разработки, отладки и развертывания тестовых программ. Чтобы завершить решение, мы предлагаем комплексные инженерные услуги, услуги по вводу в эксплуатацию, обучению и поддержке.
NI-STS


Оборудование

Измеритель NI STS представлен на платформе NI PXI и включает в себя PXI шасси с контроллером и установленными модульными приборами PXI.

Состав тестера варьируется под необходимые задачи

Требования к тестеру

Наименование Функции NI PXI
Программируемые источники питания Питание, измерение тока потребления 411x
Высокоточные измерительные источники Питание, измерение статических параметров 413x, 414x
Мультиметры 408x
Осциллографы Измерение динамических параметров 51xx
Генераторы 54xx
Логический анализаторы/генераторы Тестирование цифровых каналов  65xx
Модули с ПЛИС Имитация цифровых протоколов, формирование сигналов и обработка в режиме реального времени 78xx

Программное обеспечение

NI TestStand + модуль TestStand Semiconductor
  • Редактор последовательностей/интерфейс оператора;
  • Байннинг, интеграция с манипуляторами и зондовыми станциями, поддержка STDF формата, pin-map, тестирования в режиме multisite;
  • Встроенные процедуры частых измерений (прозвонка, Vcc и т. п.)

Модуль РАЗРАБОТКИ пользовательского ПО

  • NI LabVIEW/LabVIEW FPGA или C#
  • Включает все продвинутые математические/аналитические функции
ПО калибровки и самодиагностики NI STS

Дополнительно

Наши услуги

  1. Разработка тест-методов
  2. Разработка тестовых программ и процедур
  3. Разработка оснасток
  4. Интеграция с информационной системой предприятия
  5. Модернизация тестера
  6. Проработка семейства тестеров для стандартизации решений по тестированию, по повышению эффективности производства
  7. Тренинги, стажировка


Платформа NI STS — NI Semiconductor Test System — отличается высокой производительностью и представляет собой готовое к использованию на производстве ATE-решение для тестирования полупроводниковых устройств, включая ВЧ-устройства, устройства с сигналами различной природы и MEMS. Она подготовлена к эксплуатации в составе промышленного испытательного стенда, поддерживает различные манипуляторы, оснастки и зонды для кремниевых пластин, а стандартное расположение пружинных клемм позволяет использовать легко переносимые программы тестирования и платы нагрузки. STS включает универсальный набор программных средств для быстрых и эффективных разработки, отладки и развертывания тестовых программ

Измеритель NI STS представлен на платформе NI PXI и включает в себя PXI шасси с контроллером и установленными модульными приборами PXI.  

Состав тестера варьируется под необходимые задачи

Требования к тестеру

Наименование Функции NI PXI
Программируемые источники питания Питание, измерение тока потребления 411x
Высокоточные измерительные источники Питание, измерение статических параметров 413x, 414x
Мультиметры 408x
Осциллографы Измерение динамических параметров 51xx
Генераторы 54xx
Логический анализаторы/генераторы Тестирование цифровых каналов  65xx
Модули с ПЛИС Имитация цифровых протоколов, формирование сигналов и обработка в режиме реального времени 78xx

Интерфейс для исполнительных устройств (сортировщики, зонды, манипуляторы, проходные камеры) и внешних приборов
  • GPIB / Последовательный порт / TTL
  • USB 3.0 / ENET
  • Разъемы AUX для внешних подключений
Интерфейс оператора
  • USB / ENET / Видео
  • Порты питания
  • Управление загрузчиком печатных плат
  • Подключение антистатического браслета
  • Управление запуском/остановкой
  • Светодиоды статуса
  • Аварийное отключение
  • Соответствует конвенции SEMI S2

Программное обеспечение тестера NI STS

Набор ПО для разработки, выполнения и отладки тестов
NI TestStand + модуль TestStand Semiconductor
      • Редактор последовательностей/интерфейс оператора;
      • Байннинг, интеграция с манипуляторами и зондовыми станциями, поддержка STDF формата, pin-map, тестирования в режиме multisite;
      • Встроенные процедуры частых измерений (прозвонка, Vcc и т.п.)
Модуль РАЗРАБОТКИ пользовательского ПО
      • NI LabVIEW/LabVIEW FPGA или C#
      • Включает все продвинутые математические/аналитические функции
ПО калибровки и самодиагностики NI STS

Интерфейс оператора NI STS
Настройка, анализ, отображение:
Настройка автомата
Количества сайтов
Отчеты в STDF формате
Статистика лота
Задействованные тестовые процедуры
Тестовые сценарии
Статистика по сайту
Общая статистика
Индикаторы Годен/Не годен
Другие индикаторы статуса
и т.д.

Варианты применения


ВЧ-интерфейсы и приемопередатчики

Производители чипов для беспроводных сетей знают, что критически важными факторами при оценке тестовых решений являются сроки выхода на рынок и производительность тестов. Для входных ВЧ-модулей, включая усилители мощности (PA), малошумящие усилители (LNA), ВЧ-переключатели, ВЧ-фильтры и встроенные ВЧ-входные модули (FEM), STS обеспечивает значительное время тестирования и преимущества в пропускной способности по сравнению с конкурирующими решениями ATE. Активное участие NI в органах по стандартизации и лабораторных приложениях приводит к большому опыту и убедительным решениям для новейших стандартов беспроводной связи, таких как 5G NR и Wi-Fi 6. ускорить выход на рынок.

Ключевая особенность
  • Интегрированные решения для беспроводных стандартов RF и mmWave
  • Лучшая в отрасли полоса пропускания 1 ГГц для сложных ВЧ-измерений
  • Поддержка стандартов беспроводной связи, включая GSM, TD SCDMA, WCDMA, LTE, LTE-A, 5G NR и 802.11a/b/g/n/ac/ax.
  • До 48 двунаправленных портов RF и 72 двунаправленных порта mmWave
  • SPI, MIPI и пользовательская цифровая коммуникационная библиотека для интерфейсных модулей (FEM)
  • Дополнительный мощный RF - до +40 дБм
  • Дополнительные измерения гармоник - до 18 ГГц
  • Дополнительные измерения коэффициента шума — с Y-фактором и поддержкой холодного источника

Микроконтроллерные устройства Интернета вещей

Производители полупроводниковых чипов знают, что появление Интернета вещей (IoT) привело к увеличению разнообразия и объема полупроводниковых устройств IoT на основе микроконтроллеров с оптимизированной ценой, что может быть трудно решить с помощью традиционных решений ATE. Для устройств IoT на базе микроконтроллеров со стандартами связи, такими как Bluetooth LE, NB-IoT, Wi-Fi и ZigBee, STS предоставляет гибкую платформу для производственных испытаний, которую можно масштабировать для удовлетворения растущих объемов производства или уменьшать для соответствия ограниченным бюджетам.

Ключевая особенность
  • Лучшая в отрасли полоса пропускания 1 ГГц для сложных ВЧ-измерений 
  • Поддержка стандартов беспроводной связи, таких как Bluetooth LE, NB-IoT, Wi-Fi и ZigBee. 
  • Дополнительные инструменты для ввода и вывода звука 
  • Дополнительные инструменты генерации и захвата высокочастотных сигналов

Устройства со смешанными сигналами и МЭМС

Производители полупроводниковых микросхем знают, что тестирование как типичных, так и редких устройств с разнообразными портфелями смешанных сигналов часто приводит к широкому спектру требований к тестированию. Для устройств со смешанными сигналами, таких как преобразователи данных, линейные устройства, коммуникационные интерфейсы, датчики и устройства MEMS, а также датчики и устройства MEMS, STS предоставляет гибкую платформу для производственных испытаний, которая является экономичным вариантом для перехода с устаревших платформ тестирования или для разгрузки. мощность от дорогих платформ ATE.

Ключевая особенность
  • Общие варианты приборов для тестирования смешанных сигналов и устройств MEMS, включая цифровой, 4-квадрантный VI (исходные единицы измерения), а также генерацию и захват высокочастотных сигналов.
  • Интерактивное программное обеспечение, упрощающее разработку тестовых программ, ускоряющее подготовку тестировщика и упрощающее отладку.
  • Обширная библиотека измерений, обеспечивающая отправную точку более высокого уровня для разработки тестовых программ.
  • Дополнительные инструменты генерации и захвата высокочастотных сигналов
  • Дополнительные инструменты для ввода и вывода звука